BeVision M1

BeVision M1の概要と特徴

① 乾式・湿式サンプル両方対応可能な自動画像解析技術

従来の顕微鏡に比べて圧倒的な効率化と、人による誤差の解消

② パノラマモードで広視野画像を計測可能

パノラマモードでは、隣り合う別々の複数の画像を広視野画像に合成し、繊維や粗大粒子が存在する場合でも、ディテールを失うことなく記録・分析できます。

③ スキャンモードによる自動ステージ移動測定

最初に画像をキャプチャした後、ステージを移動しながら画像を解析し、ステージが新しい位置に移動すると次の画像をキャプチャし、このプロセスを繰り返します。スキャンプロセス中にリアルタイムで結果を表示します。手動と比較して、自動スキャンプロセスは試験の効率と信頼性を向上させます。一度の試験で多くの粒子を解析することで結果の統計的有意性を強化します。

④ 金属粒子と繊維を識別可能

形態学的および光学的特性に基づいて金属粒子と繊維粒子を識別できます。

⑤ 清浄度評価が可能

指定した範囲における粒子径と粒子個数を分析することで清浄度評価を行います。航空機、自動車、造船、計測機器などの精密製造業にお役に立ちます。

⑥ 34の粒子サイズおよび形状パラメータを提供

⑦ 乾式粉末測定をサポートする分散モジュール BT-910

BT-910乾燥粉末分散モジュールは、設定された空気圧差を生成し、分散気流を駆動します。凝集体を分散し、均一に分散して測定することで乾燥粉末の信頼性の高い再現可能な分散法を提供します。粗い試料や脆い粒子にもダメージを与えることなく制御された条件下で分散でき、様々なアプリケーションに適しており経験レベルを問わず使いやすいプロセスです。

操作性の高いBeVisionソフトウエア

評価項目が充実

粒子径に関する11項目、形状の23項目、単粒子画像など。

全自動操作

画像処理、粒子同定、粒子分析、粒子情報統計などを自動に行えます。

重なり合う粒子を識別可能

重なり合う粒子や凝集体を識別することで、測定結果への干渉を回避します。

connected particle galleryでは、重なり合う粒子や凝集体と判断された粒子の画像を表示します。これらの粒子は解析から除かれます。

粒子ひとつひとつを観察可能

不規則な形状を持つ粒子が、普通の粒子か凝集体かを判断するのに役立ちます。

ここではscatter plotで粒子径 vs アスペクト比でプロットしています。画像からも目的の粒子か不純物かを判断することができます。

 様々な表示方法

頻度分布図、累積分布図、ヒストグラム、散布図などを通じて統計解析結果が表示出来ます。

キャリブレーション機能

粒子に応じて倍率とピントを合わせることができるため、正確で精度の高い測定が可能です。

再解析機能

保存された粒子画像を再分析し、元のデータとは別に新規記録を作成することができます。

準拠

測定結果はISO 9276-6:2008に準拠しています。

紹介動画

BeVision S1との比較

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