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PI5131-i

亜酸化窒素ガス濃度・安定同位体比分析計 PI5131-i

N₂O濃度と同位体比を一台で同時高精度測定。
クライオジェン不要で野外・実験室両方に対応し、部位特異的解析で発生源や反応メカニズムの解明を可能にする次世代同位体分析装置。

概要

亜酸化窒素同位体比分析装置 PI5131-iは、亜酸化窒素(N2O)濃度および安定同位体比(δ15N、δ15Nα、δ15Nβ、δ18O)を高精度に同時計測できる最新の分析装置です。

キャビティ・リングダウン分光法(CRDS)を採用し、10分間平均で濃度精度0.05ppb未満、同位体比精度0.7‰未満という高感度を実現しています。
液体窒素などの冷却剤を必要としないクライオジェンフリー設計で、実験室だけでなく現場観測にも適しています。部位特異的な窒素同位体(Nα、Nβ)の測定が可能なため、N₂O生成・消失過程のメカニズム解明や発生源解析に有効です。
堅牢な光学キャビティ制御により長時間運転でも高い安定性を維持し、メンテナンス性にも優れています。農業、土壌科学、大気環境分野などで、窒素循環や温室効果ガス研究に欠かせない革新的な同位体分析装置です。

レーザーには中赤外域(Mid-IR)を採用しており、Picarro独自のキャビティ・リングダウン分光法(CRDS)による高い安定性と、8 km超の光路長による高い精度を両立しています。

特徴

  • 同時測定機能:N2Oの濃度と安定同位体比(δ15N、δ15Nα、δ15Nβ、δ18O)を一台で同時に高精度測定。

  • 高感度・高安定性:10分平均で濃度精度0.05ppb未満、同位体比精度0.7‰未満を実現。

  • クライオジェンフリー設計:液体窒素不要で連続運転や野外観測にも対応。

  • 部位特異的解析:窒素原子の位置(α・β)別の同位体比測定が可能で、発生源解析に有効。

  • 堅牢で使いやすい設計:温度・圧力制御による長期安定動作と簡便なメンテナンス性。

仕様

製品情報

測定方式

WS-CRDS(波長スキャン・キャビティリングダウン分光方式)

測定対象

N2O濃度

安定同位体比(δ15N、δ15Nα、δ15Nβ、δ18O)

測定精度

N2O濃度:<0.04ppb(10分平均)

δ15N, δ15Nα, δ15Nβ, δ18O :<0.7 ‰(10分平均)

N2O濃度測定範囲

300 ~ 1500 ppb

応答速度

10→90%応答 30秒未満(標準流量時)

サンプル流量

<50 sccm (760 Torr下、フィルター無)

本体寸法

W42.3 × H23.5 × D76.8 cm

重量

本体:32.2 kg、外部ポンプ:6.5 kg

消費電力

本体:約250 W、外部ポンプ:約150 W

通信・出力

RS-232, Ethernet, USB, Modbus, 4-20mA (オプション)

OS

Ubuntu 20 Linux

電源・消費電力

100–240 V AC、50/60 Hz(自動検知)

SWIPE

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