東京ビッグサイト　東6ホール　6S-03

2013年6月5日(水)～7日(金)

◆K-MAC社　OSP専用膜厚計
OSP被膜の厚みを非破壊、非接触に測定可能！従来の破壊分析(UV法)より精確で簡便な光干渉法により非破壊分析が可能になりました。

◆K-MAC社　OLED専用膜厚計
韓国,台湾,中国での実績を元にOLED分野の薄膜測定をご案内。

New
◆K-MAC社　ファイバー式膜厚計
多層膜の膜厚測定・屈折率解析が可能なファイバー式膜厚計！
フォーカス調整不要で簡便に膜厚の測定が可能。

◆K-MAC社　光干渉式膜厚計
多層膜の膜厚測定・屈折率解析が可能な光干渉式膜厚計！
顕微鏡を介することで微小領域の測定が可能。