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【ウェビナー概要】
画像解析を利用した粒子評価は、個数での粒子径分布が得られる、粒子形状を評価できるためニーズが増えています。粒子形状は、粉の流動性や充填性のみでなく研磨性や磁気特性などにも影響を与えるため製品性能を向上させる上で重要な評価となります。画像解析法の基礎と弊社で取り扱う静的、動的画像解析粒子評価装置についてお話しいたします。
【アジェンダ】
・画像解析式粒子径評価の基礎
・静的画像解析 粒子解析装置 BeVisionシリーズご紹介
・動的画像解析 粒子解析装置 XPTご紹介
・Q＆Aセッション
【言語】
日本語
【参加費】
無料
【お申込み】
本ウェビナーは、お申込み期間が終了しています。
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