静的光散乱法（SLS)
静的光散乱（SLS）は、レイリー方程式を使用して、サンプルの散乱強度から重量平均分子量（Mw）を求める技術です。一定の検出角度で、濃度をx軸として下記の式をグラフにプロットしたときの切片が分子量の逆数になります。
関連装置→BeNanoシリーズ