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ナノ粒子径・ゼータ電位測定装置 アメリゴ  AMERIGO nano size and zeta potential analyzer

ナノ粒子径・ゼータ電位測定装置 アメリゴ 
AMERIGO nano size and zeta potential analyzer

モダンで多機能な粒子分析装置です。ナノ粒子の粒子径・ゼータ電位分布の測定を一台で測定できます。さらに粒子径用のリモートヘッドや濃厚対応DTCも取り付け可能です。

  • 概要
  • 特徴

動的光散乱法DLSによる粒子径分布、レーザードップラー法によりゼータ電位分布の測定を一台で測定できます。一般的な10mm×10mmのキュベットセルを使用します。

さらに2つの粒子径測定ヘッドを追加可能です。1つは粒子径用のin situ測定用リモートヘッド(VASCO KINヘッド)で、サンプリング不要で粒子径モニタリングに最適です。
もう一つは濃厚対応DTCで濃厚試料にも対応した装置としても使用できます(VASCOと同等機能)。

測定原理と機構

ガラスセル中のサンプルにレーザーを照射します。170°の後方散乱光と17°の前方散乱光を検出します。前方と後方散乱光DLSを用いて粒子径分布を測定します。DLSはナノ粒子の粒子径測定で汎用的な方法です。前方散乱でゼータ電位測定を行います。原理は、レーザードップラー式でゼータ電位分布測定も可能です。

 

リモートヘッド

VASCO KINのヘッドを取付できます。
図のようにバイアル瓶や注射器に入ったまま遠隔で測定することで、サンプリング不要で簡便に評価や、密閉を維持したままや、分散安定性評価などの使用方法は無限大です。ナノ粒子合成反応槽のまま粒子径をモニターすることもできます。

DTCヘッド

測定セルを用いないことにより光路長を短くすることで濃厚のまま散乱光を検出でき、多重散乱を防いで濃厚評価ができる設計になってお

ります。(VASCOの同等の機能を付与できます。)

ディップセル (ゼータ電位測定)

・独自の酸化防止ガラス状カーボン電極で簡便な洗浄性

・特別な消耗品は不要

・標準的な10×10mmキュベットに対応

・材料変更可能:石英、ガラス、ポリスチレン あらゆる溶剤に対応

・キュベット壁に沿って生じる溶媒置換を防ぐことで電気浸透影響による影響を生じさせません。

  • 特徴

1台で粒子径分布、ゼータ電位分布、in situヘッドによるモニタリング測定が可能。

スタイリッシュでモダンなデザイン

 

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